Проект ФЭ-1203
Спектральные методы анализа тонких диэлектрических пленок
Документы для скачивания
Руководители проекта
- Смирнов Серафим Всеволодовичпрофессор, д.т.н.
Аудитория
ФЭТ 005-1
Участники проекта
- Жданов Василий Алексеевичгр. 311-1, каф. ФЭ
- Терехова Александра Сергеевнагр. 312-1, каф. ФЭ
- Шимук Роман Дмитриевичгр. 311-1, каф. ФЭ
Направление
Вид проекта
учебно-ориентированный
Цель проекта
1. Разработка комплексных методов исследования наногетероструктур и полупроводниковых приборов на их основе;
2. Подготовка кадров для НОЦ «Нанотехнологии».
Основные задачи проекта на этапах реализации
Освоение современных методов исследования и диагностики микро- и наноструктур материалов.
Заинтересованные структуры
ТУСУР, НПФ «Микран», ОАО НИИПП, НОЦ «Нанотехнологии».
Потребные ассигнования
1 000 000 руб.
Источники средств
Кафедра физической электроники.
Актуальность тематики проекта
В последние годы исследование субмикронных, нано- и кластерных
материалов получило быстрое развитие благодаря существующим и
потенциальным применениям во многих технологических областях, таких как
электроника, катализ, магнитное сохранение данных, структурные компоненты
и т.п.
Научная новизна проекта
Впервые проведены исследования МДМ структур.
Практическая значимость проекта
Учебная и научная деятельность.
Ожидаемые результаты
Разработка методов исследования и создание базы данных по свойствам гетероструктур.
Прогноз возможных сроков реализации проекта
По 31.12.2023 года
Целевая аудитория (потребители)
Студенты, магистранты, молодые ученые